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标题: STM32L系列单片机调试DW1000 ，实现双向测距过程中出现的问题，求教求指点 [打印本页]

作者: TCG_Killer 时间: 2021-12-2 10:18
标题: STM32L系列单片机调试DW1000 ，实现双向测距过程中出现的问题，求教求指点
原本我是用STM32F103来测试DW1000的双向测距功能。程序是官方提供的文件，我做了简单移植到KEIL。keil程序经测试能正常使用，采用无源8M外部晶振。但是由于此单片机目前价格高，成本担不起。遂采用价格低点的STM32L051来替代电路板上相同封装的STM32F103，却一直无法正常测距。尝试调整几个延时部分的参数，也都没有起到效果。随后我焊接了4块一样的电路板，两块电路板上面的单片机是F103，另外两块板上的单片机是L051，为了做比较试验。F103的基站与标签，单片机主时钟都调成了32M，与L051的主时钟保持一致。F103的基站与标签的延时参数经过调整，可以正常测距，但L051的基站与标签却始终调不好，真的费解的很，有大神能指导一下吗？

作者: okwangqing 时间: 2022-10-9 14:16
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