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STM32L系列单片机调试DW1000 ,实现双向测距过程中出现的问题,求教求指点

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发表于 2021-12-2 10:18:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
原本我是用STM32F103来测试DW1000的双向测距功能。程序是官方提供的文件,我做了简单移植到KEIL。keil程序经测试能正常使用,采用无源8M外部晶振。但是由于此单片机目前价格高,成本担不起。遂采用价格低点的STM32L051来替代电路板上相同封装的STM32F103,却一直无法正常测距。尝试调整几个延时部分的参数,也都没有起到效果。随后我焊接了4块一样的电路板,两块电路板上面的单片机是F103,另外两块板上的单片机是L051,为了做比较试验。F103的基站与标签,单片机主时钟都调成了32M,与L051的主时钟保持一致。F103的基站与标签的延时参数经过调整,可以正常测距,但L051的基站与标签却始终调不好,真的费解的很,有大神能指导一下吗?
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发表于 2022-10-9 14:16:09 | 显示全部楼层
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